在做项目/工程的时候，我们经常要用到比较多的按键，而且 IO 资源紧张，于是我们就想方设法地在别的模块中节省 IO 口，好不容易挤出一两个 IO 口，却发现仍然不够用，实在没办法了就添加一个 IC 来扫键。一个 IC 虽然价格不高，但对于大批量生产而且产品利润低的厂家来说，这是一笔不菲的开支！
我们能不能想到比较好的扫键扫描方法，用最少的 IO 口，扫描最多的键？
举个例：给出5个 IO 口，能扫多少键？有人说是2*3=6个，如图：
大部分技术参考书都这么做，我们也经常这样做：用3个 IO 口作行扫描，2个 IO 作列检测（为方便描述，我们约定：设置某一IO口输出为“0”，称其为“扫某 IO 口”)。用行线输出扫键码，列线检测是否有按键的查询方法进行扫键。扫键流程：在行线依次输出011，101，110扫键值，行线每输出一个扫键值，列线检测一次。当列线检测到有按键时，结合输出的扫键值可以判断相应的按键。
但是，5个 IO 真的只能扫6个键吗？有人说可以扫9个，利用行 IO 与地衍生3个键（要注意上拉电阻），如图：
扫键流程：先检测3个行 IO 口，对K1’，K2’，K3’进行扫键，之后如上述2*3扫键流程。5个 IO 口能扫9个键，够厉害吧，足足比6个键多了一半。
能不能再多几个呢？硬是被逼出来了！如图三：
扫键流程：设 IO1 输出为“0”，检测 IO2 — IO5，若判断有相应健按下，则可知有健;若无键，则继续扫键：设 IO2 输出为“0”，检测 IO3，IO4，IO5，判断有无键按下，如此类推。这里应注意：当扫描某一 IO 口(输出为“0”)时，不要去检测已经扫过的 IO 口。如：此时设置 IO2 输出为“0”，依次检测 IO3,IO4,IO5，但不要去检测 IO1，否则会出错(为什么，请思考)。
能不能再多点？
真强！20 个按键！多了一个对称的三角形。可是，像这样的排列能正确扫 20 个键吗？回答是肯定的：不能！上下三角形相互对称，其对称扫出的键无法区别。有没有注意到分析图三时提到的注意点？（“当扫某 IO 口时，不要去检测已经扫过的 IO 口，否则会出错”）
我们分析一下图四：当 IO1 输出“0”时，按下 K11 或 K11 键都能被 IO2 检测到，但 IO2 检测却无法区别 K11 和 K11 键！同理，不管扫哪个 IO 口，都有两个对称的键不能区分。
我们假想，如果能把对称键区分开来，我们就能正常地去判断按键。我们再思考：有没有单向导通性器件？有！见图：
很巧妙的思路!利用二极管的单向导通性，区别两个对称键。扫键思路：对逐个 IO 口扫键，其他四个 IO 口可以分别检测其所在的四个按键。这样，就不会有分析图三时提到的注意点。
够酷吧！等等，大家先别满足现状，我们再看一下图二，是不是有点启发？对，我们再分析一下“用5个 IO 口对地衍生的5个键”。看图：
25个键！5个 IO 口扫出25个键！先别激动，我们再分析一下它的可行性，分析通得过才能真正使用。假设扫键流程：先扫对地的5个键，再如图五扫键。先扫对地5个键，判断没有按键，接着对逐一对 IO 口进行扫键。但当对某一 IO 口扫键时，如果有对地的键按下，这时有可能会误判按键，因为对地键比其他键有更高的响应优先级。例如：扫 IO1，IO1输出“0”，恰好此时 K62 按下，IO2 检测到有按键，那就不能判断是 K11 还是 K62。我们可以在程序上避免这种按键误判：若 IO2 检测到有按键，那下一步就去判断是否有对地键按下，如果没有，那就可以正确地判断是 K11 了。
我们小结扫键个数S：
S = (N-1)*N + N ――启用二极管
S = (N-1)*N /2 + N ――省掉二极管
很好很强大，真是学习了，以前都只会搞2*3的，涨姿势了！
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